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016 2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 IAWBS

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测试方法 碳化硅单晶抛光片位错密度 014 2021 IAWBS 标准 图书 纸版

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IAWBS 001 图书 标准 2021 碳化硅单晶 纸版

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8英寸碳化硅单晶抛光片 005 2024 IAWBS 标准 图书 纸版

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IAWBS 004 图书 标准 2021 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 纸版

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IAWBS 016 图书 标准 2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 纸版

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IAWBS 017 图书 标准 2022 金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 纸版

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IAWBS 019 图书 标准 2023 半导体设备前端模块 纸版

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红外反射测量方法 4H碳化硅同质外延层厚度 007 2018 IAWBS 标准 图书 纸版

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IAWBS 015 图书 标准 2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 纸版

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IAWBS 021 图书 标准 2024 碳化硅晶片边缘轮廓检测方法 纸版

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IAWBS 013 图书 标准 2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 纸版

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测试方法 金刚石单晶抛光片位错密度 018 2022 IAWBS 标准 图书 纸版

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非接触涡流法 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法 011 2019 IAWBS 标准 图书 纸版

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共焦点微分干涉光学法 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 012 2019 IAWBS 标准 图书 纸版

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激光散射检测法 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法 010 2019 IAWBS 标准 图书 纸版

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IAWBS 标准 纸版 碳化硅外延层深能级缺陷 图书 瞬态电容法 2024 020 测试

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图书 IAWBS004 2017电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 纸版

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图书 IAWBS002 2017碳化硅外延片表面缺陷测试方法 纸版

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纸版 IAWBS003 电压法 图书 2017碳化硅外延层载流子浓度测定汞探针电容

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IAWBS 006 图书 标准 2022 碳化硅混合模块产品测试方法 纸版

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